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日本标准型薄膜测试仪连续测厚机贵罢-础200/贵罢-础200搁介绍

发布时间：2022-03-25　点击量：862

日本标准型薄膜测试仪连续测厚机贵罢-础200/贵罢-础200搁介绍

薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：

接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。

非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等

注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括国家标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均规定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。

配备高精度测量头和放大器单元的机器。
只需设置从生产线切出的薄膜，即可轻松连续测量厚度。

FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测量范围 / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率/ 0.01 μm