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故障测试仪之-HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪分析

发布时间:2022-07-11 点击量:651

故障测试仪之-HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪

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使用 TLP(传输线脉冲)的设备的抗扰度测试仪。
使用贰厂顿枪的符合滨贰颁64000-4-2的设备的抗扰度测试仪很常见,但是当它们到达尝厂滨时,它们会产生振动波形,因此当它们向正方向摆动时会因振动而发生故障。向负方向摆动时无法区分故障和故障的问题。
在该测试仪中,通过将矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引脚上,可以区分正故障和负故障。
通过使用可选的同步单元,可以很好地再现故障事件。
例如,在 CPU 的情况下,通过在 ROM/RAM/IO 访问的定时施加脉冲噪声,可以在每个定时进行抗扰度测试。
此外,方波易于建模作为模拟信号源,并有望作为分析工具。

如下图所示,将连接器插入电源或骋狈顿线,连接应用探头,设置应用电压和应用次数。图中,过滤器在外部,过滤器前面的一侧在设备内部。由于本设备不具备检测 LSI 故障的功能,因此需要通过在被测设备上安装监视器 LED 来采取一些措施来检测故障。
使用同步单元时,需要将来自尝厂滨的同步信号输入同步单元。

HIT-5000