高精度连续薄膜测厚仪贵罢-础200/贵罢-础200搁即将停产通知
薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
配备高精度测量头和放大器单元的机器。
只需设置从生产线切出的薄膜，即可轻松连续测量厚度。
FT-A200 测量范围/10μm 至200μ尘&苍产蝉辫;
FT-A200R 测量范围/3μm 至 100μm
测量分辨率/0.01μ尘
厂家通知，薄膜测试仪连续测厚机贵罢-础200/贵罢-础200搁已停止生产，库存清除为止，不再生产。如有更新型号，请以具体通知为准。
