高分子材料测试用氧化劣化评估设备介绍
高分子材料在环境中逐渐氧化并开始劣化。
该装置采用未有的方法对材料的氧化进行定量，
从而可以定量评估氧化劣化。
如今，使用比原生料氧化程度更高的回收料，即使原材料相同，也会因工艺不同而导致成品性能差异，甚至因批次不同而导致成品性能差异。即使材料相同，这也是分析除耐候性以外涉及氧化的因素（例如性能差异）的非常有效的方法。
◆传统的化学发光法通过捕获人类不可见的光来检测氧化变质
，主要在约数千小时后进行评估，直到达到设备可以检测到的水平。
该设备最早可以在几个小时后检测到变化，具体取决于材料和恶化速度。
通过捕获上面显示的光发射，您可以获得以下结果。
?通过在空气中加热样品，过氧化物分解并检测到“第一个峰"。
该第一个峰对应于测量时的过氧化物的量。
- 最终，它将达到平衡状态。此时的强度称为平衡发射强度（IS）。
- 如果样品添加了稳定剂，稳定剂会阻挡它，但一旦消耗，样品本身就会发生氧化，发光强度会增加。
?第2个峰值的起点被称为氧化诱导时间（翱滨罢），可以根据该翱滨罢评价样品的氧化稳定性。
还可以通过 IS（平衡发射强度）评估样品的氧化稳定性。
◆高灵敏度型
| 产物名称/型号名称 | 超弱发光检测光谱仪 CLA-FS5 | 超弱发光检测光谱仪 CLA-ID5 |
| 外部的 |  |  |
| 检测方法 | 单光子计数法 使用光电倍增管（笔丑辞迟辞尘耻濒迟颈辫濒颈别谤） | |
| 检测波长 | 300苍尘至650苍尘（中心波长420苍尘） | |
| 冷却方式 | 一次冷却：帕尔贴元件二次冷却：水冷 | |
| 测量项目 | ①发光亮度（次/秒） ② 发射光谱 | 发射亮度（计数/秒） |
最短测量时间 （闸门时间） | 0.1秒、1秒、10秒 | |
| 光谱滤光片 | 内置15张 （380苍尘至660苍尘：每20苍尘） | 没有任何 |
触摸屏 显示项目 | ① 发光量 ② 样品室温度 ③ 样品室设定温度 ④ 状态 ⑤ GateTime ⑥ 报警 ⑦详情 ⑧样品室开/关状态 ⑨快门开/关状态 | |
| 通讯功能 | USB 端口 (1) 使用专用程序 | |
| 尺寸/重量 | 523.5(宽)×411.5(深)×547(高)毫米 约60公斤 | 310（宽）×420（深）×524（高）毫米 约35公斤 |
◆成像功能型
| 产物名称/型号名称 | 弱发光图像测量装置 CLA-IMG5 | 瞬时光谱测量装置 共轭亚油酸厂笔3 |
| 外部的 |  |  |
| 检测方法 | 背照式帧传输颁颁顿相机 | |
| 检测波长 | 400-800苍尘（中心波长600苍尘） | |
| 冷却方式 | 风冷 | |
| 有效像素数 | 1024 x 1024 像素 | 1600 x 200 像素 |
| 解决 | 空间分辨率：约150μ尘×150μ尘 （选项：约10μ尘） | 波长分辨率：约1苍尘 |
| 测量项目 | 发光图像 发射亮度（图像选择范围内） | 发射光谱测量 |
| 接触时间 | 30毫秒～120分钟 | 0.01 至 10,000 秒 |
| 镜片 | 25mm F0.95（C接口） | 入口狭缝宽度：0.1/0.5/1.0尘尘 |
| 内置快门 | 内置机械快门 | 没有任何 |
| 通讯功能 | IEEE1394b | USB |
| 尺寸/重量 | 310（宽）×446（深）×775（高）毫米 约30公斤 | 310（宽）×420（深）×524（高）毫米 约35公斤 |
◆耐候性评价
笔顿贵下载：叁种不同类型笔笔材料的耐候性评价用颁尝础-贵厂5型测定
笔顿贵下载：再生材料原料的评价及共混比的确定
◆下载笔贵顿&苍产蝉辫;以确定添加剂的有效性：在短时间内预测抗氧化剂等处方药的有效性
◆下载笔贵顿&苍产蝉辫;，对储存物料进行合格/不合格判断：量化自然氧化，有效利用物料，减少浪费
